ENTRY E1435 20120523 E068E143500000001 SUBENT E1435001 20120523 E068E143500100001 BIB 10 52 E143500100002 TITLE Effects of entrance channel and compound nucleus in E143500100003 the fusion cross sections for 28Si+28Si, 16O+40Ca, E143500100004 32S+30Si, and 12C+50Cr E143500100005 AUTHOR (Y.Nagashima, J.Schimizu, T.Nakagawa, Y.Fukuchi, E143500100006 W.Yokota, K.Furuno, M.Yamanouchi, S.M.Lee, N.X.Dai, E143500100007 T.Mikumo, T.Motobayashi) E143500100008 INSTITUTE (2JPNTSU) Institute of Physics and Tandem Accelerator E143500100009 Center E143500100010 (2JPNYOK) Department of Physics E143500100011 REFERENCE (J,PR/C,33,(1),176,198601) E143500100012 INC-SOURCE Ion source: Sputter ion source (TUNIS) for experiments E143500100013 at Tsukuba E143500100014 SAMPLE Physical-form of target is solid. E143500100015 FACILITY (VDGT,2JPNTSU) Tandem Accelerator Center (UTTAC) E143500100016 (ISOCY,2JPNOSA) AVF cyclotron at Research Center for E143500100017 Nuclear Physics (for 12C+50Cr at E143500100018 higher energies) E143500100019 DETECTOR (TELES) Gas Delta-E counter and semiconductor-E E143500100020 counter E143500100021 ADD-RES E1435.002:14-SI-28(14-SI-28,X) E143500100022 Angular distribution (Angular distribution E143500100023 of evaporation residues) E143500100024 See NRDF D1435 DATA,1 for detail. E143500100025 E1435.003:14-SI-28(14-SI-28,X) E143500100026 Angular distribution (Angular distribution E143500100027 of evaporation residues) E143500100028 See NRDF D1435 DATA,2 for detail. E143500100029 E1435.004:20-CA-40(8-O-16,X) E143500100030 Angular distribution (Angular distribution E143500100031 of evaporation residues) E143500100032 See NRDF D1435 DATA,3 for detail. E143500100033 E1435.005:20-CA-40(8-O-16,X) E143500100034 Angular distribution (Angular distribution E143500100035 of evaporation residues) E143500100036 See NRDF D1435 DATA,4 for detail. E143500100037 E1435.006:14-SI-30(16-S-32,X) E143500100038 Angular distribution (Angular distribution E143500100039 of evaporation residues) E143500100040 See NRDF D1435 DATA,5 for detail. E143500100041 E1435.007:14-SI-30(16-S-32,X) E143500100042 Angular distribution (Angular distribution E143500100043 of evaporation residues) E143500100044 See NRDF D1435 DATA,6 for detail. E143500100045 E1435.008:24-CR-50(6-C-12,X) E143500100046 Angular distribution (Angular distribution E143500100047 of evaporation residues) E143500100048 See NRDF D1435 DATA,7 for detail. E143500100049 E1435.009:24-CR-50(6-C-12,X) E143500100050 Angular distribution (Angular distribution E143500100051 of evaporation residues) E143500100052 See NRDF D1435 DATA,8 for detail. E143500100053 HISTORY (20050208C) Am + On. E143500100054 ENDBIB 52 0 E143500100055 NOCOMMON 0 0 E143500100056 ENDSUBENT 55 0 E143500199999 NOSUBENT E1435002 20060214 E035E143500200001 NOSUBENT E1435003 20060214 E035E143500300001 NOSUBENT E1435004 20060214 E035E143500400001 NOSUBENT E1435005 20060214 E035E143500500001 NOSUBENT E1435006 20060214 E035E143500600001 NOSUBENT E1435007 20060214 E035E143500700001 NOSUBENT E1435008 20060214 E035E143500800001 NOSUBENT E1435009 20060214 E035E143500900001 SUBENT E1435010 20060214 E035E143501000001 BIB 6 9 E143501000002 REACTION (14-SI-28(14-SI-28,EL)14-SI-28,,DA,,MOT) E143501000003 PART-DET (14-SI-28) E143501000004 EN-SEC ANG is polar angle between beam and 28Si in laboratory E143501000005 system E143501000006 SAMPLE - Chemical-form of target is SiO2. E143501000007 - Target-thickness is 0.15 mg/cm**2. E143501000008 - Target is self supported. E143501000009 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501000010 STATUS (CURVE) Data scanned from Fig.6, p179 in reference E143501000011 ENDBIB 9 0 E143501000012 COMMON 2 3 E143501000013 EN ERR-T E143501000014 MEV PER-CENT E143501000015 76.0 10.0 E143501000016 ENDCOMMON 3 0 E143501000017 DATA 2 10 E143501000018 ANG DATA E143501000019 ADEG NO-DIM E143501000020 2.144E+00 9.847E-01 E143501000021 2.705E+00 9.977E-01 E143501000022 3.906E+00 9.914E-01 E143501000023 5.029E+00 1.011E+00 E143501000024 5.866E+00 1.020E+00 E143501000025 7.802E+00 1.039E+00 E143501000026 1.010E+01 1.022E+00 E143501000027 1.175E+01 1.021E+00 E143501000028 1.404E+01 1.013E+00 E143501000029 1.588E+01 9.988E-01 E143501000030 ENDDATA 12 0 E143501000031 ENDSUBENT 30 0 E143501099999 SUBENT E1435011 20060214 E035E143501100001 BIB 6 9 E143501100002 REACTION (14-SI-28(14-SI-28,EL)14-SI-28,,DA,,MOT) E143501100003 PART-DET (14-SI-28) E143501100004 EN-SEC ANG is polar angle between beam and 28Si in laboratory E143501100005 system E143501100006 SAMPLE - Chemical-form of target is SiO2. E143501100007 - Target-thickness is 0.15 mg/cm**2. E143501100008 - Target is self supported. E143501100009 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501100010 STATUS (CURVE) Data scanned from Fig.6, p179 in reference E143501100011 ENDBIB 9 0 E143501100012 COMMON 2 3 E143501100013 EN ERR-T E143501100014 MEV PER-CENT E143501100015 99.0 10.0 E143501100016 ENDCOMMON 3 0 E143501100017 DATA 2 12 E143501100018 ANG DATA E143501100019 ADEG NO-DIM E143501100020 2.109E+00 9.960E-01 E143501100021 2.558E+00 9.983E-01 E143501100022 3.773E+00 9.735E-01 E143501100023 4.752E+00 1.017E+00 E143501100024 5.643E+00 9.874E-01 E143501100025 6.590E+00 9.967E-01 E143501100026 7.644E+00 9.646E-01 E143501100027 8.904E+00 9.731E-01 E143501100028 9.860E+00 1.005E+00 E143501100029 1.167E+01 9.983E-01 E143501100030 1.386E+01 9.674E-01 E143501100031 1.561E+01 1.190E+00 E143501100032 ENDDATA 14 0 E143501100033 ENDSUBENT 32 0 E143501199999 SUBENT E1435012 20060214 E035E143501200001 BIB 6 9 E143501200002 REACTION (14-SI-28(14-SI-28,EL)14-SI-28,,DA,,MOT) E143501200003 PART-DET (14-SI-28) E143501200004 EN-SEC ANG is polar angle between beam and 28Si in laboratory E143501200005 system E143501200006 SAMPLE - Chemical-form of target is SiO2. E143501200007 - Target-thickness is 0.15 mg/cm**2. E143501200008 - Target is self supported. E143501200009 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501200010 STATUS (CURVE) Data scanned from Fig.6, p179 in reference E143501200011 ENDBIB 9 0 E143501200012 COMMON 2 3 E143501200013 EN ERR-T E143501200014 MEV PER-CENT E143501200015 132.6 10.0 E143501200016 ENDCOMMON 3 0 E143501200017 DATA 2 12 E143501200018 ANG DATA E143501200019 ADEG NO-DIM E143501200020 2.383E+00 9.329E-01 E143501200021 3.078E+00 9.796E-01 E143501200022 4.161E+00 9.514E-01 E143501200023 5.149E+00 1.020E+00 E143501200024 6.076E+00 1.029E+00 E143501200025 8.191E+00 9.159E-01 E143501200026 1.001E+01 9.172E-01 E143501200027 1.098E+01 1.063E+00 E143501200028 1.193E+01 1.103E+00 E143501200029 1.301E+01 9.746E-01 E143501200030 1.420E+01 8.042E-01 E143501200031 1.510E+01 5.622E-01 E143501200032 ENDDATA 14 0 E143501200033 ENDSUBENT 32 0 E143501299999 SUBENT E1435013 20060214 E035E143501300001 BIB 6 10 E143501300002 REACTION (24-CR-50(6-C-12,EL)24-CR-50,,DA,,RTH) E143501300003 PART-DET (6-C-12) E143501300004 EN-SEC ANG is polar angle between beam and 12C in laboratory E143501300005 system E143501300006 SAMPLE - Target enrichment: Enriched target E143501300007 - Chemical-form of target is element. E143501300008 - Target-thickness is 0.125 mg/cm**2. E143501300009 - Target is self supported. E143501300010 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501300011 STATUS (CURVE) Data scanned from Fig.7, p179 in reference E143501300012 ENDBIB 10 0 E143501300013 COMMON 2 3 E143501300014 EN ERR-T E143501300015 MEV PER-CENT E143501300016 65.0 16.0 E143501300017 ENDCOMMON 3 0 E143501300018 DATA 2 15 E143501300019 ANG DATA E143501300020 ADEG NO-DIM E143501300021 3.942E+00 9.921E-01 E143501300022 4.908E+00 9.745E-01 E143501300023 5.785E+00 9.704E-01 E143501300024 6.797E+00 9.941E-01 E143501300025 7.971E+00 1.031E+00 E143501300026 9.044E+00 1.076E+00 E143501300027 9.930E+00 9.672E-01 E143501300028 1.191E+01 9.800E-01 E143501300029 1.409E+01 1.222E+00 E143501300030 1.585E+01 1.013E+00 E143501300031 1.995E+01 8.364E-01 E143501300032 2.194E+01 6.322E-01 E143501300033 2.430E+01 4.390E-01 E143501300034 2.598E+01 3.034E-01 E143501300035 2.812E+01 1.996E-01 E143501300036 ENDDATA 17 0 E143501300037 ENDSUBENT 36 0 E143501399999 SUBENT E1435014 20060214 E035E143501400001 BIB 6 10 E143501400002 REACTION (24-CR-50(6-C-12,EL)24-CR-50,,DA,,RTH) E143501400003 PART-DET (6-C-12) E143501400004 EN-SEC ANG is polar angle between beam and 12C in laboratory E143501400005 system E143501400006 SAMPLE - Target enrichment: Enriched target E143501400007 - Chemical-form of target is element. E143501400008 - Target-thickness is 0.125 mg/cm**2. E143501400009 - Target is self supported. E143501400010 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501400011 STATUS (CURVE) Data scanned from Fig.7, p179 in reference E143501400012 ENDBIB 10 0 E143501400013 COMMON 2 3 E143501400014 EN ERR-T E143501400015 MEV PER-CENT E143501400016 73.5 16.0 E143501400017 ENDCOMMON 3 0 E143501400018 DATA 2 18 E143501400019 ANG DATA E143501400020 ADEG NO-DIM E143501400021 3.220E+00 9.406E-01 E143501400022 4.215E+00 9.494E-01 E143501400023 5.112E+00 9.342E-01 E143501400024 6.106E+00 9.472E-01 E143501400025 7.112E+00 9.782E-01 E143501400026 8.269E+00 9.810E-01 E143501400027 9.382E+00 9.119E-01 E143501400028 1.012E+01 9.990E-01 E143501400029 1.212E+01 1.113E+00 E143501400030 1.429E+01 1.069E+00 E143501400031 1.614E+01 9.704E-01 E143501400032 1.831E+01 6.806E-01 E143501400033 2.020E+01 4.662E-01 E143501400034 2.207E+01 3.128E-01 E143501400035 2.419E+01 1.890E-01 E143501400036 2.600E+01 1.328E-01 E143501400037 2.815E+01 8.792E-02 E143501400038 2.997E+01 6.525E-02 E143501400039 ENDDATA 20 0 E143501400040 ENDSUBENT 39 0 E143501499999 SUBENT E1435015 20060214 E035E143501500001 BIB 6 10 E143501500002 REACTION (24-CR-50(6-C-12,EL)24-CR-50,,DA,,RTH) E143501500003 PART-DET (6-C-12) E143501500004 EN-SEC ANG is polar angle between beam and 12C in laboratory E143501500005 system E143501500006 SAMPLE - Target enrichment: Enriched target E143501500007 - Chemical-form of target is element. E143501500008 - Target-thickness is 0.125 mg/cm**2. E143501500009 - Target is self supported. E143501500010 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501500011 STATUS (CURVE) Data scanned from Fig.7, p179 in reference E143501500012 ENDBIB 10 0 E143501500013 COMMON 2 3 E143501500014 EN ERR-T E143501500015 MEV PER-CENT E143501500016 140.0 16.0 E143501500017 ENDCOMMON 3 0 E143501500018 DATA 2 9 E143501500019 ANG DATA E143501500020 ADEG NO-DIM E143501500021 3.156E+00 1.000E+00 E143501500022 4.213E+00 1.016E+00 E143501500023 5.959E+00 9.971E-01 E143501500024 8.228E+00 1.084E+00 E143501500025 1.002E+01 9.541E-01 E143501500026 1.208E+01 7.845E-01 E143501500027 1.419E+01 6.178E-01 E143501500028 1.592E+01 4.178E-01 E143501500029 2.004E+01 1.915E-01 E143501500030 ENDDATA 11 0 E143501500031 ENDSUBENT 30 0 E143501599999 SUBENT E1435016 20120523 E068E143501600001 BIB 8 18 E143501600002 REACTION (14-SI-28(14-SI-28,FUS),,SIG,ER) E143501600003 Evaporation residue cross section E143501600004 MONITOR (14-SI-28(14-SI-28,EL)14-SI-28,,DA) E143501600005 MISC-COL (MISC) Critical angular momentum for fusion extracted E143501600006 from measured fusion cross section using Eq.(2) E143501600007 of the reference E143501600008 SAMPLE - Chemical-form of target is SiO2. E143501600009 - Target-thickness is 0.15 mg/cm**2. E143501600010 - Target is self supported. E143501600011 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501600012 (DATA-ERR) No information on source of uncertainties E143501600013 ADD-RES (COMP) Critical distance model (CD) and new critical E143501600014 distance model (NCD) E143501600015 (COMP) Bass model E143501600016 (COMP) Statistical yrast line model (SYL) E143501600017 STATUS (TABLE) Taken from Table 1, p181 in reference E143501600018 HISTORY (20111020A) Nf. PART-DET: deleted, REACTION: corrected E143501600019 SIG -> SIG,ER E143501600020 ENDBIB 18 0 E143501600021 COMMON 1 3 E143501600022 ERR-T E143501600023 PER-CENT E143501600024 10. E143501600025 ENDCOMMON 3 0 E143501600026 DATA 5 17 E143501600027 EN-CM DATA DATA-ERR MISC MISC-ERR E143501600028 MEV MB MB NO-DIM NO-DIM E143501600029 30.0 115. 8. 7.6 0.4 E143501600030 32.0 260. 17. 12.3 0.5 E143501600031 34.0 330. 22. 14.5 0.5 E143501600032 36.0 446. 29. 17.5 0.6 E143501600033 38.0 562. 37. 20.3 0.8 E143501600034 40.5 715. 47. 23.9 0.8 E143501600035 42.5 765. 36. 25.3 0.9 E143501600036 44.0 828. 54. 26.9 0.9 E143501600037 45.0 852. 56. 27.6 0.9 E143501600038 46.5 922. 60. 29.2 1.0 E143501600039 48.0 938. 61. 30.0 1.0 E143501600040 49.5 970. 63. 31.0 1.0 E143501600041 52.5 1072. 70. 33.6 1.2 E143501600042 55.0 1068. 69. 34.3 1.2 E143501600043 57.5 1064. 70. 35.1 1.2 E143501600044 60.5 1058. 45. 35.9 1.3 E143501600045 66.3 1050. 69. 37.5 1.3 E143501600046 ENDDATA 19 0 E143501600047 ENDSUBENT 46 0 E143501699999 SUBENT E1435017 20120523 E068E143501700001 BIB 8 19 E143501700002 REACTION (20-CA-40(8-O-16,FUS),,SIG,ER) E143501700003 Evaporation residue cross section E143501700004 MONITOR (20-CA-40(8-O-16,EL)20-CA-40,,DA) E143501700005 MISC-COL (MISC) Critical angular momentum for fusion extracted E143501700006 from measured fusion cross section using Eq.(2) E143501700007 of the reference E143501700008 SAMPLE - Chemical-form of target is element. E143501700009 - Target-thickness is 0.05 mg/cm**2. E143501700010 - Backing is carbon. E143501700011 - Backing-thickness is 0.01 mg/cm**2. E143501700012 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501700013 (DATA-ERR) No information on source of uncertainties E143501700014 ADD-RES (COMP) Critical distance model (CD) and new critical E143501700015 distance model (NCD) E143501700016 (COMP) Bass model E143501700017 (COMP) Statistical yrast line model (SYL) E143501700018 STATUS (TABLE) Taken from Table 1, p181 in reference E143501700019 HISTORY (20111020A) Nf. PART-DET: deleted, REACTION: corrected E143501700020 SIG -> SIG,ER E143501700021 ENDBIB 19 0 E143501700022 COMMON 1 3 E143501700023 ERR-T E143501700024 PER-CENT E143501700025 9. E143501700026 ENDCOMMON 3 0 E143501700027 DATA 5 8 E143501700028 EN-CM DATA DATA-ERR MISC MISC-ERR E143501700029 MEV MB MB NO-DIM NO-DIM E143501700030 42.9 1097. 65. 27.6 1.0 E143501700031 47.1 1173. 70. 30.0 1.0 E143501700032 50.0 1183. 70. 31.1 1.0 E143501700033 52.9 1239. 74. 32.8 1.0 E143501700034 55.0 1205. 71. 33.0 1.0 E143501700035 58.6 1250. 74. 34.7 1.1 E143501700036 62.9 1245. 74. 35.9 1.1 E143501700037 70.7 1241. 73. 38.0 1.2 E143501700038 ENDDATA 10 0 E143501700039 ENDSUBENT 38 0 E143501799999 SUBENT E1435018 20120523 E068E143501800001 BIB 8 18 E143501800002 REACTION (14-SI-30(16-S-32,FUS),,SIG,ER) E143501800003 Evaporation residue cross section E143501800004 MONITOR (14-SI-30(16-S-32,EL)14-SI-30,,DA) E143501800005 MISC-COL (MISC) Critical angular momentum for fusion extracted E143501800006 from measured fusion cross section using Eq.(2) E143501800007 of the reference E143501800008 SAMPLE - Chemical-form of target is SiO2. E143501800009 - Target-thickness is 0.1 mg/cm**2. E143501800010 - Target is self supported. E143501800011 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501800012 (DATA-ERR) No information on source of uncertainties E143501800013 ADD-RES (COMP) Critical distance model (CD) and new critical E143501800014 distance model (NCD) E143501800015 (COMP) Bass model E143501800016 (COMP) Statistical yrast line model (SYL) E143501800017 STATUS (TABLE) Taken from Table 1, p181 in reference E143501800018 HISTORY (20111020A) Nf. PART-DET: deleted, REACTION: corrected E143501800019 SIG -> SIG,ER E143501800020 ENDBIB 18 0 E143501800021 COMMON 1 3 E143501800022 ERR-T E143501800023 PER-CENT E143501800024 10. E143501800025 ENDCOMMON 3 0 E143501800026 DATA 5 8 E143501800027 EN-CM DATA DATA-ERR MISC MISC-ERR E143501800028 MEV MB MB NO-DIM NO-DIM E143501800029 36.2 463. 30. 18.9 0.7 E143501800030 40.6 622. 70. 23.4 1.4 E143501800031 47.9 783. 65. 28.7 1.3 E143501800032 50.3 876. 90. 31.2 1.7 E143501800033 53.2 915. 60. 32.9 1.0 E143501800034 55.7 1033. 67. 35.8 1.2 E143501800035 58.5 1051. 68. 37.0 1.3 E143501800036 61.0 1055. 69. 38.0 1.3 E143501800037 ENDDATA 10 0 E143501800038 ENDSUBENT 37 0 E143501899999 SUBENT E1435019 20120523 E068E143501900001 BIB 8 19 E143501900002 REACTION (24-CR-50(6-C-12,FUS),,SIG,ER) E143501900003 Evaporation residue cross section E143501900004 MONITOR (24-CR-50(6-C-12,EL)24-CR-50,,DA) E143501900005 MISC-COL (MISC) Critical angular momentum for fusion extracted E143501900006 from measured fusion cross section using Eq.(2) E143501900007 of the reference E143501900008 SAMPLE - Target enrichment: Enriched target E143501900009 - Chemical-form of target is element. E143501900010 - Target-thickness is 0.125 mg/cm**2. E143501900011 - Target is self supported. E143501900012 ERR-ANALYS (ERR-T) Overall error E143501900013 (DATA-ERR) No information on source of uncertainties E143501900014 ADD-RES (COMP) Critical distance model (CD) and new critical E143501900015 distance model (NCD) E143501900016 (COMP) Bass model E143501900017 (COMP) Statistical yrast line model (SYL) E143501900018 STATUS (TABLE) Taken from Table 1, p181 in reference E143501900019 HISTORY (20111020A) Nf. PART-DET: deleted, REACTION: corrected E143501900020 SIG -> SIG,ER E143501900021 ENDBIB 19 0 E143501900022 COMMON 1 3 E143501900023 ERR-T E143501900024 PER-CENT E143501900025 16. E143501900026 ENDCOMMON 3 0 E143501900027 DATA 5 6 E143501900028 EN-CM DATA DATA-ERR MISC MISC-ERR E143501900029 MEV MB MB NO-DIM NO-DIM E143501900030 52.4 1313. 210. 30.8 2.4 E143501900031 56.5 1352. 210. 32.7 2.4 E143501900032 59.3 1316. 210. 32.9 2.5 E143501900033 80.6 1059. 165. 34.5 2.5 E143501900034 96.8 1076. 165. 38.2 2.8 E143501900035 112.9 1062. 165. 41.0 3.1 E143501900036 ENDDATA 8 0 E143501900037 ENDSUBENT 36 0 E143501999999 ENDENTRY 19 0 E143599999999